螢光膜檢查系統

非接觸式檢查螢光膜(螢光片)面內色度分布。
採用新型受光頭(DF head),可實現高速，高精度量測。
內建有校正功能，校正值可追朔JCSS認證，確保長期量測穩定性。
短時間內可進行面內多點自動量測。
R&D，品質管理，產線上檢測，進貨檢查，可視用途客製化對應。