Wed, 1 May 2024 08:51:28 +0800 https://www.cens.com 大冢科技股份有限公司 https://www.cens.com 大冢科技股份有限公司 www.CENS.com Mon, 21 Jul 2014 17:24:09 +0800 分析, 校正类仪器 LED高速光谱分析仪
型号: LE-5400
适用于各种IN-LINE/OFF-LINE环境的设计 搭载电子冷却机能的高速量测 更多内容]]> https://www.cens.com/cens/html/gb/product/product_main_146768.html 大冢科技股份有限公司 Mon, 21 Jul 2014 17:25:02 +0800 分析, 校正类仪器 萤光膜检查系统
型号: DF-1000A
非接触式检查萤光膜(萤光片)面内色度分布。 采用新型受光头(DF head),可实现高速，高精度量测。 内建有校正功能，校正值可追朔JCSS认证，确保长期量测稳定性。 短时间内可进行面内多点自动量测。 R&D，品质管理，产线上检测，进货检查，可视用途客制化对应。 更多内容]]> https://www.cens.com/cens/html/gb/product/product_main_146769.html 大冢科技股份有限公司 Mon, 21 Jul 2014 17:25:08 +0800 分析, 校正类仪器 量子效率量测系统
型号: QE-2000
可瞬间量测绝对量子效率 搭配积分半球系统(HalfMoon),可消除在激发的萤光发光 激发光源采用光栅搭配滤光镜分光，可任意选择波长 可量测溶液/粉体/固体(膜片)薄膜样品 提供可自动变温量测(_300度C)的温控套件 更多内容]]> https://www.cens.com/cens/html/gb/product/product_main_146770.html 大冢科技股份有限公司 Mon, 21 Jul 2014 17:25:12 +0800 分析, 校正类仪器 分光光谱仪系列
型号: MCPD-9800
广域的波长解析范围 低迷光对应功能 稳定的量测再现性 更多内容]]> https://www.cens.com/cens/html/gb/product/product_main_146771.html 大冢科技股份有限公司