雷射+卷尺二合一测距仪 × 雷射+卷尺二合一测距仪 产品型号:TIO-30 原产地:台湾 立即询问产品 加入询问清单 详细规格及用途描述 短距离卷尺测量/长距离雷射测量一机搞定 • 全新SX10测距引擎:比前代更提升了150%的测量速度与125%的精度。 • 节点测量:内建两组可设定的长度,让您在室内分割时更显轻松。 • 完整毕氏定理运算:内建三组毕氏定理测量,适用于高度、总长与高差计算,让您事半功倍。 • 体积、面积测量:直接取得面积坪数,简化您的负担。 • 内建单位:公尺、台尺、坪数、才数。