Tue, 7 May 2024 18:25:55 +0800 https://www.cens.com 大塚科技股份有限公司 https://www.cens.com 大塚科技股份有限公司 www.CENS.com Mon, 21 Jul 2014 17:24:09 +0800 分析, 校正類儀器 LED高速光譜分析儀
型號: LE-5400
適用於各種IN-LINE/OFF-LINE環境的設計 搭載電子冷卻機能的高速量測 更多內容]]> https://www.cens.com/cens/html/zh/product/product_main_146768.html 大塚科技股份有限公司 Mon, 21 Jul 2014 17:25:02 +0800 分析, 校正類儀器 螢光膜檢查系統
型號: DF-1000A
非接觸式檢查螢光膜(螢光片)面內色度分布。 採用新型受光頭(DF head),可實現高速，高精度量測。 內建有校正功能，校正值可追朔JCSS認證，確保長期量測穩定性。 短時間內可進行面內多點自動量測。 R&D，品質管理，產線上檢測，進貨檢查，可視用途客製化對應。 更多內容]]> https://www.cens.com/cens/html/zh/product/product_main_146769.html 大塚科技股份有限公司 Mon, 21 Jul 2014 17:25:08 +0800 分析, 校正類儀器 量子效率量測系統
型號: QE-2000
可瞬間量測絕對量子效率 搭配積分半球系統(HalfMoon),可消除在激發的螢光發光 激發光源採用光柵搭配濾光鏡分光，可任意選擇波長 可量測溶液/粉體/固體(膜片)薄膜樣品 提供可自動變溫量測(_300度C)的溫控套件 更多內容]]> https://www.cens.com/cens/html/zh/product/product_main_146770.html 大塚科技股份有限公司 Mon, 21 Jul 2014 17:25:12 +0800 分析, 校正類儀器 分光光譜儀系列
型號: MCPD-9800
廣域的波長解析範圍 低迷光對應功能 穩定的量測再現性 更多內容]]> https://www.cens.com/cens/html/zh/product/product_main_146771.html 大塚科技股份有限公司