Triple---3D光学扫瞄系统

非接触式量测系统，结合独特的SIDIO技术制造之光学量测探头与光学标记定位系统(MML)，能够快速取得完整点群资料，且省去黏贴定位标签步骤。Triple为便利可携设计，让使用者可以不受环境限制进行量测工作。