Triple---3D光学扫瞄系统
非接触式量测系统,结合独特的SIDIO技术制造之光学量测探头与光学标记定位系统(MML),能够快速取得完整点群资料,且省去黏贴定位标签步骤。Triple为便利可携设计,让使用者可以不受环境限制进行量测工作。
非接触式量测系统,结合独特的SIDIO技术制造之光学量测探头与光学标记定位系统(MML),能够快速取得完整点群资料,且省去黏贴定位标签步骤。Triple为便利可携设计,让使用者可以不受环境限制进行量测工作。
电脑辅助设计与制造可支援产品建模、工程图、加工路径、制程规划、模具设计与资料转换,提升设计到制造的衔接效率。产品适合模具、精密零件、工具机加工、工业设计与制造业导入,协助缩短开发时程并降低加工错误。