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全部產品列表:

LED高速光譜分析儀

LED高速光譜分析儀

LE-5400

適用於各種IN-LINE/OFF-LINE環境的設計 搭載電子冷卻機能的高速量測

螢光膜檢查系統

螢光膜檢查系統

DF-1000A

非接觸式檢查螢光膜(螢光片)面內色度分布。 採用新型受光頭(DF head),可實現高速,高精度量測。 內建有校正功能,校正值可追朔J...

量子效率量測系統

量子效率量測系統

QE-2000

可瞬間量測絕對量子效率 搭配積分半球系統(HalfMoon),可消除在激發的螢光發光 激發光源採用光柵搭配濾光鏡分光,可任意選擇波長...

分光光譜儀系列

分光光譜儀系列

MCPD-9800

廣域的波長解析範圍 低迷光對應功能 穩定的量測再現性

公司名稱: 大塚科技股份有限公司

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